글리칭

글리칭은 버퍼에서 이전 샘플이 새로운 샘플로 전환될 때 새로운 샘플뿐만 아니라 이전 샘플과 새로운 샘플이 혼합되어 웨이브폼을 생성하는 것을 의미합니다. 이 상황은 재생성 모드 쓰기 속성/프로퍼티가 재생성 허용으로 설정된 상테에서 연속적으로 샘플을 생성하는 경우 발생할 수 있습니다. 글리칭은 새로운 샘플 쓰기 작업을 실시하는 동안 새로운 샘플의 일부분이 생성된 후 새로운 샘플 쓰기를 완료하지 못했기 때문에 이전 샘플의 일부가 생성됨으로써 발생합니다. 쓰기 작업이 완료된 후에는 새로운 샘플만이 생성됩니다.

NI-DAQmx는 새로운 샘플 쓰기 속도가 샘플 생성 속도보다 빨라지지 않도록 하여 글리칭이 발생할 가능성을 낮춥니다. 이 글리칭 방지 처리는 생성된 전체 샘플 개수가 현재 쓰기 위치보다 한 버퍼 이상이 될 때까지 쓰기 작업을 일지 정지함으로써 작동합니다. 그러나 NI-DAQmx는 샘플 생성 작업이 새로운 샘플 쓰기 작업보다 빨라지지 않도록 보장하지는 않습니다. 이런 상황에서는 글리칭이 발생하고 NI-DAQmx는 kWarningPotentialGlitchDuringWrite 경고(에러 200015)를 보고합니다. 다음은 글리칭 발생을 피하는데 도움이 되는 방법입니다:

• 생성되는 전체 샘플 개수보다 거의 한 버퍼 가량 앞서있는 새로운 샘플을 쓰십시오. 생성되는 전체 샘플 개수보다 거의 한 버퍼 가량 앞서있는 새로운 샘플을 쓰게 되면, 생성이 새로운 샘플 쓰기를 따라잡을 가능성이 낮아집니다. 한번에 전체 버퍼를 업데이트하는 경우, 생성된 전체 샘플 속성/프로퍼티가 버퍼 크기를 나타내는 정수보다 한 샘플 커질 때까지 쓰기 작업을 기다립니다. 예를 들어 버퍼 크기가 1000 샘플인 경우, 생성된 전체 샘플이 1000, 2001, 또는 3001 등이 될 때까지 새로운 샘플을 쓰지 않고 기다립니다.
• 버퍼 크기를 늘립니다. 버퍼 크기가 더 커지는 경우, 생성이 새로운 샘플 쓰기를 따라잡을 가능성이 낮아집니다.
• 샘플 클럭 속도를 줄입니다. 샘플 클럭 속도가 더 느려지는 경우, 생성이 새로운 샘플 쓰기를 따라잡을 가능성이 낮아집니다.

다음 그래프에서 사인파는 이전 샘플에서 생성되며 사각파는 새로운 샘플에서 생성됩니다. 첫번째 그래프는 글리칭이 있음을 설명합니다.

 

 

두번째 그래프는 같은 웨이브폼에서 글리칭이 없는 경우를 보여줍니다.

 

 

 

글리칭 - NI